Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79365
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Synthesis and Characterization of Temperature Controlled SnO2 Nanoparticles by Solid-state Reaction Method
Other Titles Синтез та характеристика температурно-контрольованих наночастинок SnO2, виготовлених методом твердотільної реакції
Authors Garg, Vijay
Sharma, Harsh
Rehani, Divya
Kumari, Renu
Kumar, Vipin
Tiwari, Manoj Kumar
Sharma, Shailesh Narain
Saxena, Manish
ORCID
Keywords оксид олова
наночастинки
температура
дифракція
тетрагональний
tin oxide
nanoparticles
temperature
diffraction
tetragonal
Type Article
Date of Issue 2020
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79365
Publisher Sumy State University
License In Copyright
Citation Synthesis and Characterization of Temperature Controlled SnO2 Nanoparticles by Solid-state Reaction Method [Текст] / Vijay Garg, Harsh Sharma, Divya Rehani [et al.] // Журнал нано- та електронної фізики. – 2020. – Т. 12, № 4. – 04004. – DOI: 10.21272/jnep.12(4).04004.
Abstract У роботі наночастинки оксиду олова (SnO2), відпалені при температурах 400, 500 та 600 °C, були підготовлені методом твердотільної реакції. Структурні та оптичні властивості підготовлених наночастинок SnO2 аналізували за допомогою рентгенівського дифрактометра (XRD) та скануючого електронного мікроскопа (SEM). Елементне дослідження було виконано енергетично-дисперсійною рентгенівською спектроскопією (EDAX), інфрачервоною спектроскопією з використанням перетворення Фур'є (FTIR), методами динамічного розсіювання світла (DLS) та поглинання світла в ультрафіолетовому та видимому діапазонах (UV-Vis). Рентгенівська дифрактограма підтверджує чисту тетрагональну структуру рутилу наночастинок SnO2 без будь-якої домішкової фази. SEM зображення відображають утворення нанострижнів при всіх температурах відпалу 400, 500 і 600 °C, тоді як EDAX аналіз підтверджує наявність Sn і O без будь-яких домішок. UV-Vis спектри показують, що ширина забороненої зони підготовлених наночастинок SnO2 спочатку зменшується з 3,44 еВ при температурі 400 °С до 3,03 еВ при 500 °С, а потім збільшується до 3,39 еВ при температурі 600 °С. Спектр FTIR підтверджує наявність зв'язку O–Sn–O разом з одним небажаним піком поглинання.
In the present work, nanoparticles of tin oxide (SnO2) annealed at temperatures of 400 °C, 500 °C, and 600 °C were prepared via solid-state reaction method. Structural and optical properties of prepared SnO2 nanoparticles were analyzed by X-ray diffractometer (XRD), scanning electron microscope (SEM), elemental study was performed by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDAX), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), dynamic light scattering (DLS) and ultraviolet-visible (UV-Vis) absorption characterizing techniques. The X-ray diffraction pattern confirms the pure tetragonal rutile structure of tin oxide nanoparticles without any impurity phase. SEM images depict the formation of nanorods at all annealing temperatures of 400 °C, 500 °C, and 600 °C while EDAX analysis confirms the presence of Sn and O without any impurities. UV-Vis absorption spectra show that the band gap of prepared tin oxide nanoparticles decreases initially from 3.44 eV at 400 °C to 3.03 eV at 500 °C and further increases to 3.39 eV at 600 °C. FTIR spectrum confirms the presence of O–Sn–O bond along with one unwanted absorption peak.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

China China
4758612
Finland Finland
1
Germany Germany
12338319
Greece Greece
1
India India
44578883
Indonesia Indonesia
44578885
Ireland Ireland
697057
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Pakistan Pakistan
1
Sweden Sweden
1
Turkey Turkey
1
Ukraine Ukraine
695282384
United Kingdom United Kingdom
44578881
United States United States
1828837155
Unknown Country Unknown Country
1
Vietnam Vietnam
455

Downloads

France France
135210185
India India
347641227
Lithuania Lithuania
1
Morocco Morocco
1
Ukraine Ukraine
695282384
United Kingdom United Kingdom
196110056
United States United States
-711603300
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
Vijay_Garg_jnep_4_2020.pdf 457,19 kB Adobe PDF 662640555

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.