Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/74368
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title X-ray Spectral Investigation of SiO2/TiO2/C Nanocomposites
Other Titles Рентгеноспектральне дослідження нанокомпозитів SiO2/TiO2/C
Authors Ilkiv, B.
Petrovska, S.
Zaulychnyy, Ya.
ORCID
Keywords вуглець
оксид кремнію
електронна структура
ультрам’яка рентгенівська емісійна спектроскопія
carbon
silica
electronic structure
ultrasoft X-ray emission spectroscopy
Type Article
Date of Issue 2019
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/74368
Publisher Sumy State University
License
Citation Ilkiv, Ya. X-ray Spectral Investigation of SiO2/TiO2/C Nanocomposites [Текст] = Рентгеноспектральне дослідження нанокомпозитів SiO2/TiO2/C / B. Ilkiv, S. Petrovska, Ya. Zaulychnyy // Журнал нано- та електронної фізики. - 2019. - Т. 11, № 4. - 04001. - DOI: 10.21272/jnep.11(4).04001.
Abstract Електронна структура нанокомпозитів SiO2/TiO2/C досліджена методом ультрам’якої рентгенівської емісійної спектроскопії (УМРЕС). Енергетичний перерозподіл валентних електронів в гібридних SiO2/TiO2/C матеріалах було вивчено в залежності від складу. Були отримані УМРЕС SiLα-, CKα- та ОKα-спектри SiO2/TiO2 та SiO2/TiO2/С сполук. Було виявлено, що майже всі двофазні оксиди проникають у пори вуглецю після високочастотного вібраційного синтезу в композиті ST65+C (50 мас % C, 17.5 мас % SiO2, 32.5 мас % TiO2). Було показано, що проникнення TiO2 у високопористий вуглець більше, ніж SiO2. Було виявлено, що кисень, який відноситься до TiO2, не утворює зв’язків з атомами вуглецю. Було встановлено, що вклад s-станів в нанокомпозиті ST20+C (50 мас % C, 40 мас % SiO2, 10 мас % TiO2) зростає у порівнянні з ST20 (80 мас % SiO2, 20 мас % TiO2) завдяки додаванню Cs-станів вуглецю. Було показано, що SiC формується в нанокомпозиті ST65+C завдяки заміщенню атомів кисню атомами вуглецю у присутності TiO2, як каталізатора. Дослідження електронної структури нанокомпозитів SiO2/TiO2/C дозволяє вирішити важливу задачу передбачення їх фізичних та хімічних властивостей та синтезувати матеріали з необхідними властивостями.
The electronic structure of SiO2/TiO2/C nanocomposites was investigated using the ultrasoft X-ray emission spectroscopy (USXES) method. The energy redistribution of valence electrons affected by composition of SiO2/TiO2/C hybrid materials was studied. The USXES SiLα-, CKα- and ОKα-spectra for the SiO2/TiO2 and SiO2/TiO2/C compounds were derived. It was revealed that almost all two-phase oxides penetrate to carbon pores in the ST65+C (50 wt. % C, 17.5 wt. % SiO2, 32.5 wt. % TiO2) nanocomposite after high-frequency vibration synthesis. It was shown that penetration of TiO2 to highly porous carbon is higher than SiO2. It was found that oxygen related to TiO2 does not form bonds with carbon atoms. It was revealed that the contribution of s-states in ST20+C (50 wt. % C, 40 wt. % SiO2, 10 wt. % TiO2) nanocomposite increased as compared to ST20 (80 wt. % SiO2, 20 wt. % TiO2) owing to carbon Cs-states addition. It was shown that SiC is formed in ST65+C nanocomposite owing to substitution of oxygen atoms by carbon atoms in the presence of TiO2 as a catalyst. Investigation of the electronic structure of SiO2/TiO2/C nanocomposites allows solving an important task of predicting their physical and chemical properties and synthesising materials with necessary properties.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Germany Germany
1
Greece Greece
15767
Ireland Ireland
118829
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
892427
United Kingdom United Kingdom
378315
United States United States
3189088
Unknown Country Unknown Country
47

Downloads

China China
3189089
France France
1783700
Germany Germany
892425
India India
75179
Ireland Ireland
237657
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
1783700
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
4594476
Unknown Country Unknown Country
378311

Files

File Size Format Downloads
Ilkiv_jnep_4_2019.pdf 287,79 kB Adobe PDF 12934539

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.