Исследование структурных и субструктурных характеристик  пленок ZnO

Бересток, Таисия Александровна; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Манжос, Алексей Павлович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38298

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Исследование структурных и субструктурных характеристик пленок ZnO
Authors	Berestok, Taisiia Oleksandrivna Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Manzhos, Oleksii Pavlovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	оксид цинку оксид цинка zinc oxide хімічне осадження химическое осаждение chemial bath deposition структура структура structure субструктура субструктура substructure
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38298
Publisher	Издательство ЮЗГУ, Курск, Россия
License
Citation	Бересток, Т.О. Исследование структурных и субструктурных характеристик пленок ZnO / Т.О. Бересток, А.С. Опанасюк, А.П. Манжос // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов: XI Международная конференция (13-14 мая 2014 г.). Курск: Юго-западный государственный университет , 2014. - С. 153.)
Abstract	В работе с помощью метода химического осаждения из водных растворов гексагидрата нитрата цинка и аммиака были получены пленки оксида цинка. Структурные и субструктурные свойства, полученных образцов были исследованы с помощью ретгенодифракционного метода. Проведенные исследования позволили определить зависимость основных структурных параметров пленок ZnO (текстуры, периода кристаллической решетки, размера областей когерентного рассеяния (ОКР), уровня микродеформаций) от физико-химических условий нанесения образцов. Abstract. In the work ZnO films were deposited by chemical bath deposition from aqueous solutions of zinc nitrate hexahydrate and ammonia solution. The structural and sub-structural properties of obtained samples were examined using the X-ray analysis. The research allowed to determine the dependence of the main structural parameters of the films ZnO (texture quality, lattice constants, coherent scattering domain size (CSD), microstrain) on the physical and chemical conditions of application of samples.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)